E‑Scan 微電流 HVLD：全面掌握注射劑密封完整性檢測

　　在製藥包裝中，確保容器的完整性是維持藥品安全與效能的關鍵。多種技術皆可用於包裝完整性檢測，其中 MicroCurrent 高壓洩漏檢測（HVLD）因其可靠度與效率，在最近呈現發展趨勢。

MicroCurrent HVLD 技術簡介
　　MicroCurrent HVLD 為一種非破壞性的容器密封完整性測試（CCIT）技術，用於檢測小瓶、安瓿瓶與注射器等密封製劑中的微小洩漏。與染料滲漏或目測檢查等傳統方法相比，其靈敏度更高，且不會破壞包裝本體。

　　此技術的工作原理是在容器上施加高電壓並監測由此產生的電流。若封口有微裂或缺陷，電流將異常變化，即可偵測洩漏。MicroCurrent HVLD 可識別微至微米級缺陷，確保最細微裂縫亦不遺漏 。

MicroCurrent HVLD 在包裝完整性檢測中的角色

• 高度靈敏：可偵測極小缺陷，有效降低藥品污染或降解風險 。
• 非破壞測試：測後產品仍可使用，適合整合於生產線流程 。
• 高通量：支援高速生產，具備擴展性以滿足大量注射劑需求 。
• 法規遵循：符合 USP 指引與其他品質安全標準。
• 經濟效益：雖初期投資較高，但能降低產品損耗與重測成本，長期看具成本效益 。

PTI E‑Scan 系列產品一覽
PTI 提供四種 MicroCurrent HVLD 的 E‑Scan 系列產品，針對不同需求提供完整解決方案：

• E‑Scan 605：入門款高精度 CCI 檢測儀，具單通道、手動上下機與快速Pass/Fail判讀，適合中小量檢測。
• E‑Scan 615：實驗室研發與品質監控用，短秒級檢測速度，提供Pass/Fail與定量數據。
• E‑Scan 655：進階分析型系統，不僅判定 Pass/Fail，還可定位缺陷位置並獲得定量數值。
• E‑Scan RTX：全自動化平台，搭載機械手臂與 MicroCurrent HVLD 技術，可直接應用於實驗室與生產線自動化檢測。

　　PTI 的 E‑Scan MicroCurrent HVLD 系列涵蓋從基礎至全自動化的不同需求，提供業界高靈敏、非破壞且合規的注射劑密封完整性測試方案。這些先進技術有效提升藥品品質保障與患者安全，並符合國際法規要求，是製藥與生物製造業不可或缺的高階檢測工具。